CODIFICADOR 2D DE POSICIÓN, DESPLAZAMIENTO Y ORIENTACIÓN,UTILIZANDO UN PATRÓN DE REFERENCIA PERIODICO Y LA TRANSFORMADA DE FOURIER

Néstor A Arias Hernandez, Martha Lucía Molina Prado, Miguel A Suarez, Jaime E Meneses F, Tijani Gharbi

Resumen


En este trabajo se muestra un método que permite la medida en el plano 2D, con

alta precisión de la posición, el desplazamiento y la orientación de un objeto móvil.

Un plano de referencia es fijado a la superficie del objeto y es localizado en la

escena por medio de un sistema de imagen estático con resolución subpixel en el

plano perpendicular al eje óptico. El uso de la transformada de Fourier 2D, asociado

a la aproximación del plano de fase permiten alta resolución del sistema. La

introducción de un defecto en el patrón de referencia permite la determinación de la

orientación del objeto en un rango de ±180

o

, sin afectar la precisión y resolución en

la localización del objeto.


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Referencias


-Y. Zheng, D. Bin, L. Xingxhan, and

Y. Ren, Novel twodimensional

position measurement method with

linear array charge-coupled

device,Opt. Eng.,(37):26012604,(1998).

-Eduardo Zalama, Salvador

Dominguez, Jaime Gomez, Jose

Ramon Peran G., Microcontroller

based system for 2D localisation,

Mechatronics,

(15):1109?1126,(2005).

-P. Sandoz, J. C. Ravassard, S.

Dembele, and A. Janex, Phase

sensitive vision technique for high

accuracy position measurement of

moving targets,IEEE Trans. Instrum.

Meas.,44(49):867-872,(2000).

-P. Sandoz, R. Escalona, V.

Bonnans, and S. Dembele, From

interferometry to image processing:

Phase measurement vision method

for high accuracy position sensing of

rigid targets,,in Proceedings of

Interferometry in Speckle Light:

Theory and Applications.,( 421428,(1999).

-P. Sandoz, P. Humbert, V.

Bonnans, and T. Gharbi, Mesure de

position subpixel,French

Patent.,02:02547,(1999).

-P. Sandoz, Nanometric position

and displacement measurement of

the six degrees of freedom by means

of a patterned surface element,Appl

Opt.,8(44):1449-1453,(2005).

-P. Sandoz, V. Bonnans, and T.

Gharbi, High-accuracy position and

orientation measurement of extended

two-dimensional surfaces by a phasesensitive

vision method,Appl Opt.,26(41):5503-5511,(2002).

-J.Galeano-Zea, P.Sandoz,

E.Gaiffe, J.L.Prétet, C.Mougin,

Pseudo-Periodic Encryption of

Extended 2D Surface for high

Accurate Recovery of any Random

Zone By Vision,International Journal

of Optomechatronics,1(4):6582,(2010).

-M.Takeda, Fourier-transform

method of fringe-pattern analysis for

computer-based topography and

interferometry,J. Opt. Soc.

Am.,(72):156-160,(1982).

-J. Meneses, T. Garbi, P. Humbert,

Phase-unwrapping algorithm for

images with high noise content based

on a local histogram. , Appl

Opt.,1(44):1207-15,(2005).

-Heikkila J. and Silven, A four-step

camera calibration procedure with

implicit image correction,Infotech

Oulu and Department of Electrical

Engineering, University of Oulu.,FIN-

-N. Arias, M. A. Suarez, J.

Meneses, Tijani Gharbi., Medida de la

Orientación, Posición Y

Desplazamiento en el Plano de un

objeto por codificación de Fase.,

Revista BISTUA., 2(7):70- 76,(2009).




DOI: https://doi.org/10.24054/01204211.v1.n1.2014.1823

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